SN74LVTH18646APM Fiche technique
Spécifications pour SN74LVTH18646APM
Numéro d'article : SN74LVTH18646APM
Fabricant : Texas Instruments
La description : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Séries : 74LVTH
Statut de la pièce : Active
Type de logique : ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Tension d'alimentation : 2.7V ~ 3.6V
Nombre de bits : 18
Température de fonctionnement : -40°C ~ 85°C
Type de montage : Surface Mount
Paquet / caisse : 64-LQFP
Package d'appareils du fournisseur : 64-LQFP (10x10)
Poids : -
État : Nouveau et original
Qualité garantie : 365 jours de garantie
Ressource de stock : Distributeur franchisé / fabricant direct
Pays d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Référence fabricant
Numéro de pièce interne
Fabricant
Brève description
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Statut RoHS
Sans plomb / conforme RoHS
Heure de livraison
1-2 jours
quantité disponible
40810 Pièces
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