SN74BCT8240ADWRE4 - IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
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Numéro de pièce interne
Fabricant
Brève description
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Statut RoHS
Sans plomb / conforme RoHS
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Spécifications pour SN74BCT8240ADWRE4
Qualité garantie :
365 jours de garantie
Ressource de stock :
Distributeur franchisé / fabricant direct
Pays d'origine :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Numéro d'article :
SN74BCT8240ADWRE4
Fabricant :
Texas Instruments
La description :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Séries :
74BCT
Statut de la pièce :
Obsolete
Type de logique :
Scan Test Device with Inverting Buffers
Tension d'alimentation :
4.5V ~ 5.5V
Nombre de bits :
8
Température de fonctionnement :
0°C ~ 70°C
Type de montage :
Surface Mount
Paquet / caisse :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Package d'appareils du fournisseur :
24-SOIC
Poids :
-
État :
Nouveau et original
Documents pour SN74BCT8240ADWRE4
Feuilles de données :
SN74BCT8240ADWRE4.pdf
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Vishay Beyschlag |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 10000PF 16KV SCREW. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 100PF 16KV DISK. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 6000PF 16KV SCREW. |
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Vishay Beyschlag |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 10000PF 13KV R230 DISK. |
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