SN74BCT8374ANT - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Référence fabricant
Numéro de pièce interne
Fabricant
Brève description
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Statut RoHS
Sans plomb / conforme RoHS
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Spécifications pour SN74BCT8374ANT
Qualité garantie :
365 jours de garantie
Ressource de stock :
Distributeur franchisé / fabricant direct
Pays d'origine :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Numéro d'article :
SN74BCT8374ANT
Fabricant :
Texas Instruments
La description :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Séries :
74BCT
Statut de la pièce :
Obsolete
Type de logique :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tension d'alimentation :
4.5V ~ 5.5V
Nombre de bits :
8
Température de fonctionnement :
0°C ~ 70°C
Type de montage :
Through Hole
Paquet / caisse :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Package d'appareils du fournisseur :
24-PDIP
Poids :
-
État :
Nouveau et original
Documents pour SN74BCT8374ANT
Feuilles de données :
SN74BCT8374ANT.pdf
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CAP CER 0.022UF 50V X7R 1206. |
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Murata Electronics North America |
CAP CER 5.6PF 25V C0G/NP0 01005. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 7500PF 22.5KV SCREW. |
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Vishay Beyschlag |
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Murata Electronics North America |
CAP CER 8.1PF 25V NP0 0402. |
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CAP CER 220PF 100V BP 1805. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 7500PF 14KV SCREW. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 6000PF 20KV R230 DISK. |
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CAP CER 10000PF 100V BP 1825. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 5000PF 14KV SCREW. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 7500PF 22.5KV SCREW. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 7500PF 22.5KV SCREW. |
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CAP CER 1000PF 40KV. |
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KEMET |
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Vishay Vitramon |
CAP CER 3000PF 50V BP 1210. |
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Vishay Beyschlag |
CAP CER 5000PF 14KV SCREW. |
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Vishay Beyschlag |
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