SN74ABT8652DL - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
Référence fabricant
Numéro de pièce interne
Fabricant
Brève description
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
Statut RoHS
Sans plomb / conforme RoHS
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Spécifications pour SN74ABT8652DL
Qualité garantie : 365 jours de garantie
Ressource de stock : Distributeur franchisé / fabricant direct
Pays d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Numéro d'article : SN74ABT8652DL
Fabricant : Texas Instruments
La description : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
Séries : 74ABT
Statut de la pièce : Active
Type de logique : Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Tension d'alimentation : 4.5V ~ 5.5V
Nombre de bits : 8
Température de fonctionnement : -40°C ~ 85°C
Type de montage : Surface Mount
Paquet / caisse : 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Package d'appareils du fournisseur : 28-SSOP
Poids : -
État : Nouveau et original
Documents pour SN74ABT8652DL
Feuilles de données : SN74ABT8652DL.pdf
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