SN74ABT8543DWRG4 - IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
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Numéro de pièce interne
Fabricant
Brève description
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
Statut RoHS
Sans plomb / conforme RoHS
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1-2 jours
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Spécifications pour SN74ABT8543DWRG4
Qualité garantie :
365 jours de garantie
Ressource de stock :
Distributeur franchisé / fabricant direct
Pays d'origine :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Numéro d'article :
SN74ABT8543DWRG4
Fabricant :
Texas Instruments
La description :
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
Séries :
74ABT
Statut de la pièce :
Obsolete
Type de logique :
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Tension d'alimentation :
4.5V ~ 5.5V
Nombre de bits :
8
Température de fonctionnement :
-40°C ~ 85°C
Type de montage :
Surface Mount
Paquet / caisse :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Package d'appareils du fournisseur :
28-SOIC
Poids :
-
État :
Nouveau et original
Documents pour SN74ABT8543DWRG4
Feuilles de données :
SN74ABT8543DWRG4.pdf
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