SN74BCT8373ANT - IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
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IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
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Sans plomb / conforme RoHS
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Spécifications pour SN74BCT8373ANT
Qualité garantie : 365 jours de garantie
Ressource de stock : Distributeur franchisé / fabricant direct
Pays d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Numéro d'article : SN74BCT8373ANT
Fabricant : Texas Instruments
La description : IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Séries : 74BCT
Statut de la pièce : Obsolete
Type de logique : Scan Test Device with D-Type Latches
Tension d'alimentation : 4.5V ~ 5.5V
Nombre de bits : 8
Température de fonctionnement : 0°C ~ 70°C
Type de montage : Through Hole
Paquet / caisse : 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Package d'appareils du fournisseur : 24-PDIP
Poids : -
État : Nouveau et original
Documents pour SN74BCT8373ANT
Feuilles de données : SN74BCT8373ANT.pdf
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